SN74ABT8245DWR
|
Производитель: |
Texas Instruments (VA) |
Купить | |||||||||||||||||||||||||
|
Описание: |
IC SCAN TEST DEV W/OBT 24-SOIC | ||||||||||||||||||||||||||
|
Категория: |
Integrated Circuits (ICs) | ||||||||||||||||||||||||||
|
Корпус: |
-- |
Год: |
-- | ||||||||||||||||||||||||
|
Datasheet (Техническое описание) SN74ABT8245DWR Поиск в бесплатном архиве даташитов datasheet.su Посмотреть все характеристики
| |||||||||||||||||||||||||||
